Metric hoá sự hội tụ yếu của dãy độ đo xác suất

Loại tài liệu: Tài liệu số - Thesis

Tác giả: Đặng, Thị Thanh Thảo

Nhà Xuất Bản: Đại học Sư phạm Hà Nội

Năm Xuất Bản: 2007

Tóm tắt nội dung

Trình bày các khái niệm cơ bản về sự hội tụ, sự hội tụ chủ yếu của dãy các độ đo xác suất. Nghiên cứu các không gian metric để đặc trưng sự hội tụ yếu của dãy các độ đo xác suất, tức là metric hoá sự hội tụ yếu của các độ đo xác suất. Xét mối liên hệ giữa sự hội tụ yếu của dãy các độ đo xác suất với sự hội tụ yếu của dãy các độ đo xác suất với sự hội tụ hầu chắc chắn của các phân tử ngẫu nhiên

Ngôn ngữ:Vie
Tác Giả:Đặng, Thị Thanh Thảo
Thông tin nhan đề:Metric hoá sự hội tụ yếu của dãy độ đo xác suất
Nhà Xuất Bản:Đại học Sư phạm Hà Nội
Loại hình:Thesis
Mô tả vật lý:47 tr
Năm Xuất Bản:2007

TÀI NGUYÊN KHÁC